Материаловедение и металлография
Микроскопия в отраженном свете применяется для исследования образцов, которые остаются непрозрачными даже после шлифовки до толщины в несколько микрон. Этот метод особенно востребован при анализе структуры и свойств твердых материалов, где традиционное наблюдение в проходящем свете невозможно или недостаточно информативно.
Широкие возможности для исследования непрозрачных материалов
К этой категории образцов относится чрезвычайно широкий спектр материалов: большинство металлов, руды, керамика, многие полимеры, полупроводники, включая необработанный кремний, пластины и интегральные схемы, а также уголь, пластики, краски, бумага, древесина, кожа, стеклянные включения и множество других специализированных материалов.
• Микроскопия в отраженном свете для непрозрачных образцов
• Подходит для материаловедения и металлографии
• Эффективна для анализа структуры твердых материалов
• Используется для исследования металлов, руд и керамики
• Подходит для полимеров и полупроводников
• Применяется для анализа кремния, пластин и интегральных схем
• Подходит для угля, пластика, красок, бумаги и древесины
• Может использоваться для исследования кожи, стеклянных включений и других специальных материалов
